BARKER可規劃的檢驗光幕介紹，邦納測量光幕應用

產品技術規格

功能為可規劃的量測檢驗光幕.
包括個控製器, 發射器和接收器及內部連接用訊號線.
提供可規劃的控製器和可選擇的測量模式選擇、掃描模態和輸出組態
提供高度從 133 到 1819 公厘的選擇, 依型號而定
提供發射器和接收器zui小偵測物件達12.7mm
包含進階設定軟體
可選擇的型號中有的監控和控製到 DeviceNet 的控製網路
功能為可選擇加熱型密閉式外殼附件在戶外使用

BARKER可規劃的檢驗光幕介紹，邦納測量光幕應用
產品技術規格、可用於邊緣和定位,張力控製, 孔洞尺寸測量,零件計數和產品尺寸外形檢測

緊密的光束zui小可以檢測5mm寬的物體;分辨率為2.5 mm.
接收器內建控製器功能,所以無需控製器,軟件和PC
簡便易用的安裝軟件包含了許多進階設定功能
有14種測量模式,3種掃描方式,2個開關輸出和2個模擬量輸出,排通訊接頭
發射器與接收器之間間距為4m
光幕高度從150到2400 mm.
產品技術規格

優良、高速的高精度檢測光幕，應用檢測、精密邊緣、指引和孔洞偵測。
包含個控製器、發射器、接收器，和連接電纜
提供個控製器，可選擇測量模式、掃描模式、輸出配置
光幕高度163-1951 mm, 依型號區分
zui小被檢測物高度為2.5 mm
2m的檢測距離，易於對準
可規劃遮蔽模式、遲滯模式和序列通訊模式
包含進階規畫軟體進行進階設定（軟體已含）